磁存储硬盘表面全氟聚醚衍生物润滑膜的X射线光电子能谱研究

利用ＸＰＳ分析了计算机硬盘表面全氟聚醚衍生物润滑膜的结构。结果表明，根据ＸＰＳ谱图中的Ｃ１５峰位可以分辩润滑剂化学结构式中各官能团；根据硬盘衬底的Ｃ－Ｏ基ＰＦＰＥ的Ｆ－Ｏ基团的Ｏ１５峰强之比可以确定硬盘表面润滑膜的厚度，因工艺条件不同，膜厚处在１．５～６．０ｎｍ范围之间。