基于FTIR的光谱辐射率测量试验研究

光谱辐射率是表征材料表面辐射特征的重要物理量。本文采用能量法，基于傅立叶红外光谱仪(FTIR)进行光谱辐射率测量试验研究，分析了光谱仪校准方法，测量了不同温度下铜的法向光谱辐射率。结果表明：线性拟合法很好地获得了光谱仪响应函数与背景辐射；双温黑体法能够快捷地校准光谱仪，所选两个黑体的温度在大温差条件下可以获得足够校准精度；铜的光谱辐射率随温度升高而整体上升，随波长增加逐步降低。