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ISSN: 2333-9721
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天津蓟县长城系串岭沟组伊利石微结构特征

, PP. 894-899

Keywords: 蓟县,伊利石,微结构,高分辨透射电镜(HRTEM),一维晶格像,二维晶格像

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Abstract:

?利用高分辨透射电镜(HRTEM)结合选区电子衍射(SAED)、能谱(EDS)和X射线衍射(XRD)对天津蓟县长城系串岭沟组(Chch)地层中伊利石的微结构特征进行了研究.所研究伊利石的Kübler指数(“伊利石结晶度”)为0.505°Δ2θ,表明所采岩石处于成岩阶段中期.EDS成分分析表明该伊利石样品层间电荷亏损严重,其平均化学晶体结构式为K0.57(Al1.80Mg0.42Fe2+0.12)Σ=2.34(Si2.92Al1.08)Σ=4O10(OH)2.从获得的一维晶格像中观察到了具平直堆垛和弯曲堆垛层结构的伊利石晶体,以及由于位错形成的如席状编织结构的伊利石晶体,结合SAED确定它们为1M型伊利石.沿[100]和[110]入射形成的二维晶格像,其晶格条纹宽度相同,交角不同.沿[100]形成的二维晶格条纹相互垂直,而沿[110]形成的二维晶格条纹相互斜交.该研究为蓟县中元古界典型剖面提供了重要的自生黏土矿物的结构信息.

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