1/fγ Noise Characteristics of an n-MOSFET Under DC Hot Carrier Stress
DC应力n-MOSFET热载流子退化的1/f噪声特性
Keywords: n-MOSFET,热载流子效应,1/fγ噪声,n-MOSFET,hot,carrier,1/fγ,noise
Abstract:
研究了DC应力n.MOSFET热载流子退化的Sfγ噪声参量.提出了用噪声参数和Sfγ表征高、中、低三种栅应力下n-MOSFET抗热载流子损伤能力的方法.进行了高、中、低三种栅压DC应力下热载流子退化实验.实验结果和本文模型符合较好.
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