A cryogenic SAR ADC for infrared readout circuits
一种用于红外读出电路的低温SAR ADC

本文提出了一种用于低温红外读出系统的连续逼近模数转换器（SAR ADC）电路。为了在很宽的温度范围内保证电路的性能，ADC中采用了一种温度补偿时域比较器结构。该比较器可在从室温到77K的极端工作温度条件下，实现稳定的性能和极低的功耗。该转换器采用标准的 0.35 μm CMOS 工艺制造，在77K的温度下，其最大微分非线性（DNL）和积分非线性（INL）分别为0.64LSB和0.59LSB。在采样率为200kS/s时可实现9.3bit的有效位数。在3.3V的电源电压下其功耗为0.23mW，占用的芯片面积为0.8*0.3 mm2。