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ISSN: 2333-9721
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低温SDB技术研究及硅表面吸附态的影响

Keywords: SDB,低温,硅表面吸附态,半导体器件

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Abstract:

研究了低温(500℃以下)硅一硅直接键合(SDB)技术,在低至120℃条件下获得了优良的键合结果,其键合强度可达到10MPa以上.结合现有SIMS和TDS测试结果,研究了硅表面吸附态对SDB的影响,并对低温SDB的可能机制进行了讨论.

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