全部 标题 作者 关键词 摘要
Full-Text Cite this paper Add to My Lib
本文对具有半绝缘性a-Si:H薄层的MISS器件进行了实验研究.实验发现它具有更高的光敏性.在a-Si型的MISS中也呈现出双态特性,并将其解释为n区的电荷存贮效应.
Full-Text
Contact Us
service@oalib.com
QQ:3279437679
WhatsApp +8615387084133