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ISSN: 2333-9721
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电子俘获对φb和热电子流的影响

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Abstract:

本文从泊松方程出发,考虑了二氧化硅中电子俘获的影响,导出硅-二氧化硅界面的势垒高度.还得出了包含电子俘获作用的栅电流随时间变化的关系式.由此关系式及(?)表达式推得热电子衬底电流与栅电流之间的解析表达式,从而解释了在栅电流较大的情况下此两电流之间的非线性对数关系.

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