Determination of Minority Carrier Diffusion Length in Sillicon by Photoelectrochemical Method
光电化学法测定硅中少子扩散长度

Keywords: Sillicon,Diffusion length Liquid Junction
硅,扩散长度,液结,光电化学法,测定

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Abstract:

本文将Gartener方程应用于硅材料,并提出了称之为I_o/I_(ph)-α~(-1)法的光电化学法,用于测定硅中少子扩散长度.文中研究了实验条件对测量结果的影响,讨论了该法的实用价值和给出了与SPV法对比的实验结果.

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