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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
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漏轻掺杂MOSFET的特性分析及其解析模型

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Abstract:

制作了1μm沟道长度 LDD nMOSFET,其衬底电流较常规结构的 MOSFET降低了两个数量级,击穿电压提高了5伏.此外,还建立了包括热电子速度饱和和串联电阻在内的LDDMOSFET解析模型.

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