|
岩石学报 1985
不同成因断层岩中石英的透射电镜(TEM)显微构造特征及其成因意义探讨Abstract: 引言近十几年来,透射电子显微镜(TEM)在地质科学方面的应用越来越广(Wenk, H. R.et al. 1976; 何永年,1980)。尤其是对矿物的显微结构和构造的研究,已成为不可缺少的手段。结合高温高压岩石力学实验技术,利用TEM对实验变形岩石中各种矿物的显微构造特征所进行的许多研究(Morrison-Smith, D. J. et al, 1976; Kekulawla, K. R. S. S. et
|