%0 Journal Article
%T Analisis Morfologi Permukaan Lapisan Klorofil dengan Atomic Force Microscopy
%A Lidya Nur De Vega
%J -
%D 2015
%R http://dx.doi.org/10.12962/j24604682.v11i3.1069
%X Karakteristik morfologi permukaan lapisan klorofil hasil AFM (Atomic Force Microscopy) telah dianalisis. Lapisan klorofil ditumbuhkan dengan metode spin coating pada substrat glass ITO. Hasil pengamatan morfologi dengan AFM menjelaskan bahwa lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N = 3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun lapisan klorofil membentuk distribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5
%K chlorophyll layer
%K spin coating
%K surface morphology
%K AFM
%U http://iptek.its.ac.id/index.php/jfa/article/view/1069