%0 Journal Article
%T STUDIUM MECHANICKYCH VLASTNOST¨ª S VYU£¿IT¨ªM MIKROSKOPIE ATOM¨¢RN¨ªCH SIL
%J -
%D 2013
%X Mikroskopie atom¨¢rn¨ªch sil (AFM) se £¿ad¨ª mezi modern¨ª zobrazovac¨ª techniky, kter¨¦ poskytuj¨ª obraz v subnanometrick¨¦m rozli£¿en¨ª. Na rozd¨ªl od ostatn¨ªch technik ji lze pou£¿¨ªt i v kapalin¨¢ch, kter¨¦ imituj¨ª p£¿irozen¨¦ prost£¿ed¨ª, co£¿ je obzvl¨¢£¿£¿ vyhodn¨¦ p£¿i studiu biologickych vzork£¿. Od roku 1986 se vyvinula v univerz¨¢ln¨ª n¨¢stroj, ktery krom¨§ vy£¿kov¨¦ho zobrazen¨ª poskytuje mapy elastickych a viskoeleastickych vlastnost¨ª. Na£¿e pr¨¢ce m¨¢ za ¨²kol p£¿edstavit nov¨¦ techniky zabyvaj¨ªc¨ª se studiem mechanickych vlastnost¨ª bun¨§k - Peak Force Tapping a Stiffness tomography. Oba p£¿¨ªstupy reprezentuj¨ª jedine£¿ny zp£¿sob pr¨¢ce se silovymi k£¿ivkami, kter¨¦ jsou z¨¢kladem pro ur£¿en¨ª mechanickych vlastnost¨ª
%K mikroskopie atom¨¢rn¨ªch sil
%K mechanick¨¦ vlastnosti
%K Peak Force Tapping
%K stiffness tomography
%U https://ojs.cvut.cz/ojs/index.php/CTJ/article/view/4316