%0 Journal Article
%T 二次离子质谱测定珊瑚氧同位素的制靶技术评价
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%D 2018
%X 摘要 二次离子质谱是目前测定高精度珊瑚微区原位氧同位素组成的唯一技术手段。本实验从取样的厚度和深度两方面探讨了制靶技术对珊瑚氧同位素测定的影响。研究发现，切取珊瑚片的厚度从3 mm变化到5 mm时，珊瑚基体效应（IMFcoral）变化幅度为1.02‰；分析面距离传统方法（IRMS）取样面的深度从0 mm变化到3 mm时，IMFcoral变化幅度为0.7‰。实验表明，过厚的取样厚度会造成靶面较多气泡，影响珊瑚氧同位素测试；而取样深度的差异会导致时间效应和生命效应相互叠加，使珊瑚基体效应偏离正常值，对研究珊瑚基体效应的一般性规律造成明显的干扰。当取样厚度小于3 mm，取样深度与IRMS取样面保持一致时，IMFcoral为-2.75‰，该数值与前人的估算值（IMFcoral=-2.8‰）在误差范围内一致。因此，在制靶过程中，取样厚度不宜超过3 mm，取样深度应与IRMS取样面保持一致，可将制靶的影响降至最小，从而获得准确的珊瑚氧同位素分析的基体效应值，该结论可为推广二次离子质谱在珊瑚研究中的应用提供技术保障
%K 珊瑚
%K 二次离子质谱（SIMS）
%K 基体效应
%K 氧同位素
%K 取样厚度
%K 取样深度
%U http://www.jcmss.com.cn/CN/abstract/abstract2740.shtml