%0 Journal Article
%T 基于敏感寄存器替换的电路软错误率与开销最优化
%A 孙  岩  张民选  李少青  高昌垒
%J -
%D 2011
%X 随着集成电路的发展，逻辑电路对放射性粒子引起的软错误越来越敏..
%K [软错误
%K 开销
%K 可靠性
%K 敏感寄存器
%K 贪婪算法
%K 启发式算法
%K soft error
%K overhead
%K reliability
%K sensitive register
%K greedy algorithm
%K heuristic algorithm]
%U http://crad.ict.ac.cn/CN/Y2011/V48/I1/28