%0 Journal Article
%T 集成电路高层故障模型间关系分析方法
%A 李晓维
%A 鲁  巍
%A 杨修涛
%J -
%D 2006
%X 集成电路的测试变得日益重要，传统的门级测试虽然效果很好，但是..
%K [高层故障模型
%K 固定型故障模型
%K 统计
%K 故障模型序列
%K high-level fault model
%K stuck-at fault model
%K statistics
%K fault models series]
%U http://crad.ict.ac.cn/CN/Y2006/V43/I2/350