%0 Journal Article
%T 一种快速有效的L2 Cache可靠性预测方法
%A 唐遇星
%A 张民选
%A 王永文
%A 马安国
%A 成  玉
%J -
%D 2013
%X 随着集成电路工艺的不断进步，微处理器的软错误问题日益突出.体..
%K [软错误
%K 体系结构弱点因子
%K AVF预测
%K 贝叶斯累加树
%K 块搜索
%K soft error
%K architectural vulnerability factor(AVF)
%K AVF prediction
%K Bayesian additive regression tree(BART)
%K bump hunting]
%U http://crad.ict.ac.cn/CN/Y2013/V50/I1/181