%0 Journal Article
%T 一种交替互补的双状态机自恢复方案
%A 吴珍妮
%A 曹  源
%A 梁华国
%A 黄正峰
%A 陈秀美
%J -
%D 2012
%X 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要..
%K [状态机拆分
%K 软错误
%K 回卷
%K 自恢复
%K 交替互补
%K FSM decomposition
%K soft error
%K rollback
%K self-recovering
%K alternating-complementary]
%U http://crad.ict.ac.cn/CN/Y2012/V49/I1/111