%0 Journal Article
%T 烧结温度影响Zn-Bi系压敏陶瓷性能研究
%A 于克锐
%A 刘建科
%A 崔永宏
%A 王 浩
%A 陈永佳
%A 韩 晨
%J 功能材料
%D 2016
%R 10.3969/j.issn.1001-9731.2016.08.037
%X 以95.5ZnO-0.5V2O5-2.0Bi2O3-0.5Mn3O4-0.5Y2O3-0.5Cr2O3-0.5Co2O3为配方制备压敏电阻,研究了烧结温度对该体系微观结构及电学性能的影响。研究表明,随着烧结温度升高,ZnO压敏电阻的击穿场强E1mA逐渐减小,非线性系数α、损耗角正切值tanδ以及相对介电常数εr均先增大再减小。当烧结温度为910 ℃时,压敏电阻的微观结构均匀,晶界清晰,有大量八面体的尖晶石相生成,且分布均匀。该烧结温度下所制备的压敏电阻的非线性系数α达到最大值27,击穿场强E1mA为3 456.5 V/cm,工作频率105 Hz条件下该电阻的损耗角正切值tanδ为0.29
%K 烧结温度
%K ZnO压敏电阻
%K 微观结构
%K 电学性能
%K 损耗性能
%U http://www.gncl.cn/CN/abstract/abstract15184.shtml