%0 Journal Article
%T 熔融制样X射线荧光光谱法测定陶瓷中的硅含量
%A 兰琳
%A 陈美瑜
%J 功能材料
%D 2018
%R 10.3969/j.issn.1001-9731.2018.12.036
%X 采用X射线荧光光谱法测定高性能陶瓷中的硅元素含量,系统研究了熔剂、稀释比、脱模剂、熔融温度与时间对测定结果的影响,并分析了产生这些影响的机理。结果表明,当无水四硼酸锂、碳酸锂、样品三者质量比(m(无水四硼酸锂)∶m(碳酸锂)∶m(样品))=8.0∶1.5∶0.2时,在1 050 ℃下先预熔5 min、再摇摆熔融10 min,可以获得高质量的熔片。硅的质量浓度在55%～70%时,相关系数为0.9997,方法检出限为0.81%。硅元素的加标质量为0.02 g时,加标回收率为98.5%～99.0%。此方法已应用到日常陶瓷样品的检测
%K X射线荧光光谱法
%K 硅
%K 陶瓷
%K 先驱体转化法
%K 氟硅酸钾滴定
%U http://www.gncl.cn/CN/abstract/abstract17483.shtml