%0 Journal Article
%T 玉米叶片光谱弱差信息的重金属污染定性分析
%A 卓伟
%A 张婉婉
%A 张文文
%A 杨可明
%A 汪国平
%J 环境工程学报
%D 2016
%X 不同重金属污染下的玉米叶片光谱响应存在细微差异。设计不同浓度的铜（Cu）和铅（Pb）污染实验，并测量不同浓度铜离子和铅离子胁迫下玉米叶片的光谱反射率、Cu含量、Pb含量及对应叶绿素含量。针对光谱弱差信息甄别的难点，结合光谱微分处理、光谱角、正切函数增强和波谱分段检测等构建一种甄别玉米叶片Cu、Pb胁迫的分段微分光谱角正切（segmentation derivative spectral angle tangent,SDSAT）模型。甄别玉米叶片不同生长程度的玉米叶片在Cu、Pb胁迫下的光谱响应差异，并通过区分玉米冠层Cu、Pb胁迫光谱的差异以验证该模型有效可行。实验结果表明，SDSAT模型甄别Cu、Pb胁迫玉米光谱主要差异在“紫光”“红边”和“近峰B”波段区间，这些差异也是鉴别Cu、Pb污染的定性分析标志，并可以根据模型测度结果分析玉米的污染程度
%K 微分光谱
%K 光谱角
%K 正切函数
%K 玉米叶片
%K 重金属污染
%K 弱信息检测
%K 定性甄别
%U http://www.cjee.ac.cn/article/doi/10.12030/j.cjee.201601103