%0 Journal Article
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%J 华侨大学学报(自然科学版)
%D 2016
%R 10.11830/ISSN.1000-5013.2016.02.0160
%X 应用透射电子显微镜中电子能量损失谱仪(TEM-EELS),对电子束激发的单晶Au纳米线耦合结构及单晶/多晶纳米薄膜的表面等离激元(SPs)特征进行分析.结果表明:直径约为10 nm的两单晶Au纳米线平行耦合时,单根纳米线和耦合结构中均存在位于2.4 eV 的SPs共振,耦合结构中SPs的纵模数增加;单晶及多晶Au纳米薄膜在1.4 eV附近存在SPs模式,相较于单晶薄膜,多晶Au纳米薄膜的SPs共振峰位出现明显红移.
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%U http://www.hdxb.hqu.edu.cn/oa/DArticle.aspx?type=view&id=201602007