%0 Journal Article
%T 纳米粉末ZrO2-CeO2-La2O3的XRF分析研究
%A 刘尚华
%A 陶光仪
%A 吉昂
%J 无机材料学报
%D 1999
%X 摘要： 本文用粉末压片法制样，XRF分析纳米粉ZrO2－CeO2－La2O3中主、次量元素，研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响．随着粉碎时间的延长和压力的增大，元素的荧光强度逐步上升；最后达到一个坪区．在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉，其荧光强度却没有明显的差别：因此认为，纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素．
%K 纳米粉
%K 荧光强度
%K 粉末压片
%K 团聚效应
%U http://www.jim.org.cn/CN/abstract/abstract11589.shtml