%0 Journal Article %T 基于双边缘模板匹配的类圆颗粒检测 %A 孙 凡 %A 孙光民 %J 软件工程 %D 2019 %X 摘 要: 在各种不同应用场合,经常需要统计类圆颗粒数目,如工业领域的棒材计数、医学领域的细胞分割等, 这些类圆颗粒通常形状并非十分规则,且有部分重叠。本文针对类圆堆叠颗粒的二值图像,提出了一种基于双边缘模 板匹配的检测方法。首先利用粒度测量方法,得到类圆颗粒的估计半径,然后通过此半径构造一组边缘模板,同时使用 Sobel算子将待检测的二值图像分别在两个方向上检测边缘,最后使用构造的模板对边缘进行匹配,并通过限制条件得 到预期结果。实验表明,此方法可以有效检测此类颗粒,并且可以解决轻度堆叠、孔洞等影响。 %K 类圆颗粒 %K 模板匹配 %K 图像标记 %U http://www.rjgczz.com/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20190402&flag=1