%0 Journal Article
%T 半导体封装测试生产线排产研究
%A 刘昶
%A 史海波
%A 姚丽丽
%J -
%D 2014
%R 10.3724/SP.J.1004.2014.00892
%K 半导体封装测试
%K 产能限定混线车间
%K 启发式算法
%K 正序排产
%U http://www.aas.net.cn:80/cn/article/doi/10.3724/SP.J.1004.2014.00892