%0 Journal Article
%T 中红外漫反射光谱法测定CL-20晶型含量
%A 孙成辉
%A 庞思平
%A 张皋
%A 温晓燕
%A 潘清
%A 苏鹏飞
%A 高红旭
%J 含能材料
%D 2016
%R 10.11943/j.issn.1006-9941.2016.05.013
%X 采用中红外漫反射光谱技术结合化学计量学偏最小二乘法(PLS)建立了ε-CL-20产品中α-CL-20、γ-CL-20、ε-CL-20的定量校正模型, 并对模型进行了交互验证和外部验证。结果表明:三种模型具有较高的准确度和精密度, 交互验证决定系数(R2)分别为0.9973、0.9714、0.9848, 交互验证标准偏差(RMSECV)分别为0.222%、0.650%、0.670%;外部验证预测标准偏差(RMSEP)分别为0.422%、0.813%、1.02%, 配对t检验结果表明预测值与真值之间无显著性差异。基于上述模型的晶型定量分析方法适用于ε-CL-20的产品质量检验以及火炸药工艺过程、长贮过程中ε-CL-20的晶型稳定性研究
%K CL-20 晶型定量分析 中红外漫反射光谱 偏最小二乘法
%U http://www.energetic-materials.org.cn/hncl/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=2015147&flag=1