%0 Journal Article
%T 一种bist测试激励的聚类移位压缩方法
%A 涂吉？
%A 王子龙？
%A 李立健？
%J 计算机科学
%D 2014
%R 10.11896/j.issn.1002-137X.2014.05.007
%X 提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法。对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到rom中。为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩。实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试。
%K 聚类压缩
%K 移位压缩
%K 内建自测试
%K 测试激励
%U http://www.jsjkx.com/jsjkx/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20140507&flag=1