%0 Journal Article
%T 时序pld安全缺陷检测方法研究
%A 陈志锋
%A 李清宝
%A 曾光裕？
%J 计算机科学
%D 2012
%X 可编程逻辑器件((pld)在电子设备中广泛应用，其安全缺陷检测已成为信息安全领域中一个富有挑战性的课题。通过分析pli)安全缺陷的存在形式，提出了基于状态转移图的安全缺陷检测方法。该方法统一了检测思路，采用了脱机式芯片逆向分析和在线式芯片逆向分析相结合的技术，适用于不同的pld安全缺陷检测，同时根据存在形式提出了检测算法。最后通过模拟测试对该检测思路及算法的有效性进行了验证。
%K 可编程逻辑器件
%K 状态转移图
%K 安全缺陷检测
%U http://www.jsjkx.com/jsjkx/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=120511&flag=1