%0 Journal Article
%T 上海“6.25”辐射事故受照者14年染色体畸变随访研究
%A 陈　英
%A 周平坤
%A 刘秀林
%A 张学清
%A 杜　杰
%A 闫学昆
%A 吴德昌
%J 癌变·畸变·突变
%D 2008
%X ？背景与目的：1990年上海“6.25”60co源辐射事故中2例重度、3例中度骨髓型急性放射病患者被救治成功。为了阐明放射病的远后效应，对该5名受照者连续进行照后14年的染色体畸变随访观察，为辐射远后效应评价积累资料。材料与方法：常规染色体畸变分析、g-显带自动核型分析以及用全染色体涂染探针进行fish分析，检测非稳定性畸变(cu)和稳定性畸变(cs)，并将历年检测结果进行比较。结果：照后3.5年染色体cu畸变降至初始水平的20％左右，照后14年已基本丢失贻尽。残留的畸变以易位等cs畸变为主。cs与复杂畸变的出现频率均与受照剂量相关，照后6～14年基本保持不变。g-显带自动核型分析与fish方法检出的总畸变率大体一致。各条染色体的断裂几率呈随机分布。染色体畸变的恢复速度及远后效应的严重程度不仅与受照剂量有关，而且与机体的健康状况密切相关。结论：cs畸变是评价辐射远后效应的理想指标。对事故受照者进行长期随访观察具有十分重要的意义。
%K 染色体畸变
%K g-显带核型分析
%K 荧光原位杂交
%K 辐射远后效应
%U http://www.egh.net.cn/CN/abstract/abstract2745.shtml