%0 Journal Article
%T 溶液温度对电化学沉积氧化亚铜薄膜相成分和显微结构的影响
%A 周延春
%J 材料研究学报
%D 1996
%X ？用电化学方法在不锈钢基体上沉积了多晶cu2o薄膜并用x射线衍射和扫描电镜进行了分析.研究了溶液温度对薄膜相组成、晶粒尺寸和择优取向的影响当溶液的ph=9、温度低于50℃时得到的是cu2o/cu复相薄膜,纯cu2o薄膜可在溶液温度高于50℃时获得纯cu2o薄膜具有(100)择优取向实验发现薄膜的晶粒尺寸随溶液温度的增加从0.12μm增加到0.65μm。
%K cu_2o
%K 电化学沉积
%K 薄膜
%U http://www.cjmr.org/CN/abstract/abstract15934.shtml