%0 Journal Article
%T 环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(tof—sims)分析
%A 邓朝辉
%A 陈维孝
%A 宗祥福
%J 材料研究学报
%D 1995
%X ？用飞行时间次级离子质谱仪(tof—sims)结合银离化技术,研究了两种型号的环氧树脂;发现了一些不同结构的成分,指出了其可能的结构提出了一种测量环氧端基水解率的方法
%K 飞行时间次级离子质谱
%K 环氧树脂
%K 银离化
%U http://www.cjmr.org/CN/abstract/abstract16078.shtml