%0 Journal Article
%T 粗大晶粒pzt陶瓷中电畴的结构
%A 戴林杉
%A 包生祥
%A 曾慧中
%J 材料研究学报
%D 2004
%X ？应用扫描力显微镜(sfm)的压电响应模式观测未经抛光处理的pzt陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得pzt陶瓷材料三维电畴结构.结果表明,将样品晶粒的微形貌与sfm的纵向和侧向压电响应信号相结合,能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构.用sfm可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴,不会引入表面应力等影响因素,能得到样品的原生畴结构.对原生畴结构的观察表明,对于受应力较大的晶粒,成畴的主要原因是降低应变能,而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能.
%K 无机非金属材料
%K 铁电体
%K 扫描力显微镜
%K 电畴
%U http://www.cjmr.org/CN/abstract/abstract1124.shtml