%0 Journal Article
%T 片层宽度对全片层tial合金蠕变性能的影响
%A 林建国
%A 张永刚
%A 陈昌麒
%J 材料研究学报
%D 2001
%X ？通过不同的热处理工艺,得到了具有相近晶粒度不同片层宽度的全片层tial合金组织,并在t=800℃,σ=205mpa条件下,测试了其蠕变性能,研究了片层宽度对蠕变性能的影响规律及其机理.研究结果表明,全片层tial合金的初始蠕变量和最小蠕变速率随片层宽度的增加而提高.片层界面在蠕变过程中能向基体中发射位错,同时又能阻碍位错的发射和位错的运动.
%K tial合金
%K 显微组织
%K 蠕变性能
%K 片层界面
%U http://www.cjmr.org/CN/abstract/abstract1492.shtml