%0 Journal Article
%T 二次烧成对caob2o3sio2系微晶玻璃结构和性能的影响
%A 韦鹏飞
%A 周洪庆
%A 朱海奎
%A 邵辉
%A 戴斌
%J 南京工业大学学报(自然科学版)
%P 11-15
%D 2011
%X 摘要：研究一次和二次烧成对caob2o3sio2(cbs)微晶玻璃的烧结性能与介电性能的影响。用x线衍射（xrd）、扫描电镜（sem）等分析探讨二次烧成对cbs微晶玻璃的微观结构与介电性能的关系。结果表明：与一次烧成相比，二次烧成能够促进玻璃体中的小晶粒生长，试样的收缩率和体积密度有所增加，有利于介电常数提高和介质损耗的降低，且体系中没有出现新的晶相；875℃烧结的试样，x/y轴收缩率均为14.33%，体积密度达到2.46g/cm3，10mhz介电常数和损耗相应为6.21和3.5×10-3，热膨胀系数为11.86×10-6/℃，抗折强度为157.36mpa。
%K 二次烧成
%K 钙硼硅玻璃
%K 性能
%U http://zrb.njutxb.com/oa/DArticle.aspx?type=view&id=201103