%0 Journal Article
%T 确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则
%A 刘攀？
%A 缪淮扣？
%A 曾红卫？
%A 梅佳？
%J 软件学报
%P 1457-1474
%D 2011
%R 10.3724/SP.J.1001.2011.03872
%X 软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则,给出了最小测试成本迁移覆盖存在的充分和必要条件,设计了优移覆盖和最小测试成本迁移覆盖的实现算法,并讨论了测试序列集合的有效性问题.在实验中,依据该方法不仅获得最小测试成本的测试用例集合,而且同样能够探测出确定性有限状态机中迁移上的错误.
%K 最小测试成本迁移覆盖准则
%K 成本/效率的平衡
%K 确定性有限状态机
%K 迁移覆盖
%U http://www.jos.org.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=3872&flag=1