%0 Journal Article
%T “申威-1号”高性能微处理器的功能验证
%A 黄永勤？
%A 朱英？
%A 巨鹏锦？
%A 吴志勇？
%A 陈诚？
%J 软件学报
%P 1077-1086
%D 2009
%X 微处理器设计日趋复杂,如何对微处理器设计进行有效而充分的验证,成为芯片流片成功的关键因素之一.在介绍微处理器功能验证的一般理论和方法的基础上,介绍了“申威-1号”高性能微处理器的功能验证所采用的验证策略及各种验证方法.rtl(registertransferlevel)级验证是功能验证的重点,模拟验证是“申威-1号”rtl级验证的主要验证手段.详细介绍了如何综合采用多种验证技术来解决rtl级模拟验证的几个关键问题:高质量测试激励生成、模拟结果正确性的快速判断以及验证覆盖率目标的实现.最后对各种验证方法所取得的验证效果进行了分析.
%K 功能验证
%K 伪随机测试激励
%K 功能覆盖率
%K 参考模型
%K 实时比较
%U http://www.jos.org.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=3602&flag=1