%0 Journal Article %T 薄膜表面的分形特征 %A 汤晓明 %A 魏赛珍 %A 毛祖遂 %A 李海洋 %A 陈晓峰 %A 郑永铭 %J 物理化学学报 %D 1999 %X 在计算机上用随机数相加的方法产生了一个分形表面,对这个表面的模拟测量表明,z方向分辨率变化对分形维数测量结果影响很小,x、y方向分辨率降低时会导致测量结果统计误差增大用扫描隧道显微镜(stm)测量了沉积在三种不同基底上的au膜的分形维数.测得au/陶瓷的分形维数d=2.15,au/光学玻璃的分形维数d=2.06.au/载玻片上各点的分形维数较不一致.同时讨论了多图方法中各单图曲线之间不衔接的原因. %K 分形维数 %K 薄膜表面 %K 扫描隧道显微镜 %K 计算机模拟 %K 分辨率 %U http://www.whxb.pku.edu.cn/CN/abstract/abstract23046.shtml