%0 Journal Article
%T 相位式激光测距全数字锁相环控制系统
%A 匡云帆
%A 严高师
%A 张心标
%J 强激光与粒子束
%P 1705-1708
%D 2012
%X ？针对减小相位式激光测距中的误差，介绍了一种基于现场可编程门阵列（fpga）实现的全数字锁相环（adpll）控制系统的技术原理。此系统可以提高相位频率检测器的精度，同时不受温度和电压的影响，大幅降低相位式激光测距在测相过程中的频率误差。系统主要由数字鉴相器、数字滤波器和数字控制振荡器等逻辑设备组成，系统中的信号全部为数字信号。实验结果表明，当fpga内部的参考信号为40hz时，采样周期为0.025s，滤波器在300ms达到约5v的电压饱和状态。adpll系统避免了模拟电路中常常遇到的不全传输、寄生能力、温度浮动及老化等问题，并且可以在使用重置器件的情况下运行，因此很容易测试和复原。
%K 相位式激光测距
%K 全数字锁相环
%K 相位频率检测器
%K 环路滤波器
%K 现场可编程门阵列
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract6383.shtml