%0 Journal Article
%T 合肥光源托歇克效应损失电子的探测
%A 孙玉聪
%A 蓝杰钦
%A 张剑锋
%A 徐宏亮
%A 孙葆根
%J 强激光与粒子束
%P 0-0
%D 2011
%X ？束流寿命是衡量储存环性能的重要参数，直接影响着光源的正常运行。对于合肥光源（hls），托歇克（touschek）寿命是影响束流寿命的重要因素。为了研究touschek寿命，需要探测由于touschek效应所损失的电子。介绍了束流寿命的概念，说明了touschek效应的原理和机制，利用蒙特卡罗软件egsnrc模拟计算了丢失电子与真空壁的相互作用，通过塑料闪烁体探测器和光电倍增管获得了由于touschek效应丢失的电子所产生的信号，然后将信号经过放大甄别和符合处理后，用计数器测量了计数率。结果表明：由于touschek效应而成对丢失的电子的确存在，且电子损失率随流强的降低而减小。这为下一步储存环的能量标定工作做好了前期准备。
%K 合肥光源
%K 束流寿命
%K 托歇克效应
%K 蒙特卡罗方法
%K 塑料闪烁体探测器
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract5046.shtml