%0 Journal Article
%T 强光致ccd过饱和效应机理分析
%A 张震
%A 程湘爱
%A 姜宗福
%J 强激光与粒子束
%P 0-0
%D 2010
%X ？分析了正常工作条件下ccd信号检测电路工作的全过程；指出了在正常工作状态下ccd对检测电路的注入是以低占空比的周期性窄脉冲方式进行的，配合有效的复位机制，使每个像素的复位电平保持为常值。根据ccd过饱和状态的产生条件和ccd信号传输沟道内的电势分布特点，提出了ccd过饱和状态的物理实质，即激光在ccd的受辐照点处提供了一个光生电流源，光生电荷将ccd的传输势阱全部填满之后使得ccd由一个电荷器件转变为一个电流器件。电流通过由ccd时钟的低电平所确定的沟道传输，使ccd对检测电路的注入以近乎连续的周期性长脉冲方式进行，导致了复位电平的改变，造成过饱和的视频图像。
%K 图像传感器
%K ccd
%K 过饱和效应
%K 串扰
%K 复位电平
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract4383.shtml