%0 Journal Article
%T 电磁脉冲对半导体器件的电流模式破坏
%A 余稳
%A 蔡新华
%A 黄文华
%A 刘国治
%J 强激光与粒子束
%P 0-0
%D 1999
%X ？利用时域有限差分（fdtd）方法，对电磁脉冲引起半导体器件的毁坏过程进行了数值模拟，得到了无负载半导体pn结器件在快前沿（ns量级）电磁脉冲作用下的瞬态行为，及由于电流引起的器件烧毁过程中器件参数的变化情况。
%K 电磁脉冲
%K 半导体器件
%K 电流模式
%K 时域有限差分
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract1233.shtml