%0 Journal Article
%T x光背光观测烧蚀面扰动引起内界面扰动的增长
%A 袁永腾
%A 缪文勇
%A 丁永坤
%A 鄢扬
%A 赵宗清
%A 刘慎业
%A 刘忠礼
%A 张继彦
%A 黄翼翔
%A 杨国洪
%A 张海鹰
%A 曹柱荣
%A 胡昕
%A 于燕宁
%A 张文海
%J 强激光与粒子束
%P 0-0
%D 2007
%X ？侧向背光照相能直接反映靶表面扰动幅度的变化情况。在神光ⅱ装置上，实验利用侧向背光照相技术，对烧蚀面扰动引起的内界面扰动增长进行了观测。实验结果表明，观察到的内界面扰动幅度大于期望值。分析认为，造成内界面较大扰动增长的原因主要是2维效应。x光辐照的主要是烧蚀面的中间部分，烧蚀面扰动引起的内界面的扰动就呈现出一幅从中间的扰动区域逐渐过渡到四周的图像。由此，提出了新的靶优化设计方案，应尽可能减小沿背光方向的样品尺寸。
%K 流体力学不稳定性
%K 烧蚀面
%K 侧向背光照相
%K 2维效应
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract3156.shtml