%0 Journal Article
%T 硫系薄膜阈值开关机理的探讨
%A 孔光临
%A 李永常
%A 姚振钰
%J 物理
%P 0-0
%D 1973
%X ？本文通过不同温度下阈值电压及恢复过程等基本特性的测量说明开关行为在较高温度下主要是热的机构，而在低温下似乎是无极性电过程起主要作用；恢复过程基本上是一个热的恢复过程，即使在低温时，仍需考虑不可避免的热作用的存在．
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract26629.shtml