%0 Journal Article
%T 关于用离子束刻蚀作剖面分析时深度值的定标问题
%A 佘觉觉
%A 王维明
%J 物理
%P 0-0
%D 1984
%X ？一、引言俄歇电子能谱和光电子能谱结合离子束刻蚀逐层检测，可以获得剖面分布曲线．一般说来，这样做的结果只能得到信号－时间（ｔ）的关系．实际应用中需要把这种关系转换为信号与厚度ｚ的关系．本文以ｓｉｏ２／ｓｉ为例，讨论如何进行转化．二、分析在溅射时间ｔ１后刻蚀的层厚ｚ为［１］其中ｓ（溅射速率）为式中ｍ为（平均）原子量，ρ为（平均）密度，ｎａ为阿伏伽德罗常数，ｅ为基本电荷，ｓｍ为（平均）溅射产额（原?...
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract27631.shtml