%0 Journal Article
%T 背散射和沟道分析在超导薄膜中的应用
%A 袁洛
%J 物理
%P 0-0
%D 1992
%X ？本文简要介绍了卢瑟福背散射和沟道分析技术的基本原理，说明了它们在高临界温度超导薄膜的成分和结构分析中的应用．
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract28888.shtml