%0 Journal Article
%T 晶体取向的测定
%A 张龙生
%J 物理
%P 0-0
%D 1975
%X ？晶体在电子工业等方面被广泛的使用．晶体取向不同电性能和物理特性将有显著的不同，因而需要测定晶体取向．所谓晶体取向就是确定晶体的晶轴相对于试样经选定的外界参考坐标的取向或相应于特别方向的取向．下面将分ｘ射线法，机械法及光学法三方面来简要介绍晶体取问的测定．一、ｘ射线法［１，２，３，４，５］利用ｘ射线法测定晶体取向是最基础又正确的方法，但是拍摄ｘ射线照片和对照片进行分析需化费一定时间，同时ｘ射线?...
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract26744.shtml