%0 Journal Article
%T 离子探针质谱微分析(ⅱ):lte模式理论及其定量分析应用
%A 林卓然
%J 物理
%P 0-0
%D 1980
%X ？一、引言人们在解决离子探针定量分析的最初尝试中，曾想利用“工作曲线”法或与一套已知成份的标准样相比较的方法．但是实践证明，这种方法存在严重的局限性．因为，且不说标准样本身就可能存在着化学成份和物理性质的微观非均匀性问题，就样品来说，它的二次离子绝对产率极其依赖于发射二次离子表面处的电子功函数．而局部表面电子功函数又受多方面物理和化学因素的变化影响，这种局部变化在同一样品中或不同样品间是经常存?...
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract27056.shtml