%0 Journal Article
%T 新的光干涉实验——多光束等厚干涉测薄膜厚度
%A 邱榴贞
%A 杨之昌
%A 章志鸣
%J 物理
%P 0-0
%D 1981
%X ？多光束等厚干涉条纹具有干涉条纹锐细的优点，可以大大提高干涉法计量的精确度．目前已经有以下几方面的应用１．测量厚度在ｌμｍ以下的薄膜厚度；２．检查高级光学平面的质量，研究接近平面的晶体表面和金属表面的形状和特性［１］；３．测量液体的折射率［２］；４．测量μｍ以下的细丝的直径和光学特性（例如人造纤维的直径和折射率）．也已生产了基于本原理的商品仪器．根据科学技术的发展，我们设计了一个实验──用多?...
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract27278.shtml