%0 Journal Article
%T 分子电子器件的电性能测试方法
%A 王伟
%J 物理
%P 0-0
%D 2007
%X ？介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术.结合分子器件的电性能测试要求，对各类测试方法进行了分析评价，并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势.
%K 分子电子学
%K 分子电子器件
%K 电性能测试
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract30998.shtml