%0 Journal Article
%T 正电子迁移率的测量
%A 郁伟中
%A 袁佳平
%J 物理
%P 0-0
%D 1999
%X ？综述了在半导体和金刚石中的正电子迁移率的６种不同测量方法（角关联方法、多普勒方法、寿命谱方法、注入剖面法、扩散常数法和慢正电子法），给出了自１９５７年以来国内外的所有测量数据，并对数据进行了综合分析
%K 正电子湮没
%K 正电子迁移率
%K 半导体
%K 金刚石
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract29723.shtml